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互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

高丽,于涛,杨俊茹主编;李桂莉,王全为,孙静,苏春建副主编
  • 作者高丽,于涛,杨俊茹主编;李桂莉,王全为,孙静,苏春建副主编
  • 出版社北京:国防工业出版社
  • 标注页数196 页
  • 文件页数206 页
  • 文件大小10.32 MB
  • 出版时间2012
  • ISBN9787118078817
内容简介
本书分为绪论,测量技术基础,尺寸的公差、配合与检测,几何公差与检测,表面粗糙度与检测,圆锥和角度公差与检测,尺寸链基础,光滑极限量规设计,常用结合件的公差与检测,渐开线圆柱齿轮传动公差与检测等共11章。
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