数字集成电路功耗与测试综合优化

孙强著

作者孙强著
出版社北京：清华大学出版社
标注页数208 页
文件页数219 页
文件大小94.01 MB
出版时间2016
ISBN9787302455608

内容简介

本书介绍了数字电路综合验证和代数学理论的应用研究现状。然后分五部分分别介绍了多项式符号代数在高层次综合中的应用、多项式符号代数在形式验证中的应用、有限环上多项式在定界模型检验中的应用、进程代数在SoC测试调度中的应用、布尔可满足性在等价验证中的应用以及布尔过程论在逻辑级模拟验证的应用。最后对代数学理论在数字电路综合验证中的应用进行总结，并对未来的进一步研究进行了展望。

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