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Evaluation of Transistor Life Data

Evaluation of Transistor Life Data

Johnson, J. D.; VanSwearingen, B.
  • 期刊名称IRE Transactions on Reliability and Quality Control
  • 作者Johnson, J. D.; VanSwearingen, B.
  • 印刷ISSN0097-4552
  • 文件大小1371.34KB
  • 发表时间1957-08
  • DOI10.1109/ire-pgrqc.1957.5007142
  • 页码15-26
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