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Scanning reflection electron microscope

Scanning reflection electron microscope

Ltd., Cambridge Instrument Co
  • 期刊名称Journal of Scientific Instruments
  • 作者Ltd., Cambridge Instrument Co
  • 卷第39卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0950-7671
  • 文件大小151.83KB
  • 发表时间1962-03
  • DOI10.1088/0950-7671/39/3/452
  • 页码139-139
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