Stability criteria in tuned transistor amplifiers
Scanlan, J.O.; Even, R.K.; O'Shannassy, B.T.
- 期刊名称Proceedings of the IEEE
- 作者Scanlan, J.O.; Even, R.K.; O'Shannassy, B.T.
- 卷第53卷
- 期第1期
- 印刷ISSN0018-9219
- 文件大小265.67KB
- 发表时间1965
- DOI10.1109/proc.1965.3537
- 页码86-87