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Query 18: Life Testing and Early Failure

Query 18: Life Testing and Early Failure

A. Clifford Cohen
  • 期刊名称Technometrics
  • 作者A. Clifford Cohen
  • 卷第8卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0040-1706
  • 文件大小626.42KB
  • 发表时间1966-08
  • DOI10.2307/1266699
  • 页码539-545
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