Analysis of the I(V) characteristics of p+-n-π-p+structures for the determination of hole velocity in silicon

• 作者Scharfetter, D.L.; Seidel, T.E.
• 卷第15卷
• 期第6期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小190.98KB
• 发表时间1968
• DOI10.1109/t-ed.1968.16298
• 页码426-426