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Ellipsometry and the clean surfaces of silicon and germanium

Ellipsometry and the clean surfaces of silicon and germanium

F. Meyer; E.E. De Kluizenaar; G.A. Bootsma

作者F. Meyer; E.E. De Kluizenaar; G.A. Bootsma
卷第27卷
期第1期
文件大小1053.09KB
发表时间1971
DOI10.1016/0039-6028(71)90163-4
页码88-106

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