Wear of Electrical Contacts due to Small-amplitude Motion
Bayer, R. G.; Sirico, J. L.
- 期刊名称IBM Journal of Research and Development
- 作者Bayer, R. G.; Sirico, J. L.
- 卷第15卷
- 期第2期
- 印刷ISSN0018-8646
- 电子ISSN0018-8646
- 文件大小516.06KB
- 发表时间1971-03
- DOI10.1147/rd.152.0103
- 页码103-107