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Electron probe microanalysis on electron microscope thin foils using thin standards

Electron probe microanalysis on electron microscope thin foils using thin standards

Philibert, J; Rivory, J; Bryckaert, D; Tixier, R

期刊名称Journal of Physics D: Applied Physics
作者Philibert, J; Rivory, J; Bryckaert, D; Tixier, R
卷第3卷
期第11期
印刷ISSN0022-3727
文件大小250.46KB
发表时间1970-11-1
DOI10.1088/0022-3727/3/11/103

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