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Infrared Response Measurements on Radiation-Damaged Si(Li) Detectors

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Sher, A. H.; Liu, Y. M.; Keery, W. J.
  • 作者Sher, A. H.; Liu, Y. M.; Keery, W. J.
  • 卷第19卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0018-9499
  • 电子ISSN1558-1578
  • 文件大小1463.74KB
  • 发表时间1972
  • DOI10.1109/tns.1972.4326743
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