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Majority- and minority-carrier lifetime in MOS structures

Majority- and minority-carrier lifetime in MOS structures

G. Baccarani; C.A. Baffoni; M. Rudan; G. Spadini

作者G. Baccarani; C.A. Baffoni; M. Rudan; G. Spadini
卷第18卷
期第12期
印刷ISSN0038-1101
文件大小525.40KB
发表时间1975
DOI10.1016/0038-1101(75)90177-x
页码1115-1122

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