System reliability analysis: A tutorial : Mitchell O. Locks. Microelectron. Reliab.18, 335 (1978)

• 卷第19卷
• 期第4期
• 印刷ISSN0026-2714
• 文件大小95.04KB
• 发表时间1979
• DOI10.1016/0026-2714(79)90005-2