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An Experimental Delay Test Generator for LSI Logic

An Experimental Delay Test Generator for LSI Logic

Lesser, J.D.; Shedletsky, J.J.

作者Lesser, J.D.; Shedletsky, J.J.
期第3期
印刷ISSN0018-9340
文件大小4691.87KB
发表时间1980
DOI10.1109/tc.1980.1675555
页码235-248

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