Recent status of the KamLAND experimentF. Suekane; K. Eguchi; S. Enomoto; K. Furuno; Y. Gando; J. Goldman; H. Hanada; H. Ikeda; K. Ikeda; K. Inoue; K. Ishihara; T. Iwamoto; T. Kawashima; Y. Kishimoto; M. Koga; Y. Koseki; T. Maeda; T. Mitsui; M. Motoki; K. Nakajima; M. Nakajima; T. Nakajima; H. Ogawa; K. Oki; K. Owada; I. Shimizu; J. Shirai; F. Suekane; A. Suzuki; K. Tada; O. Tajima; T. Takayama; K. Tamae; H. Watanabe; T. Taniguchi; Y-F. Wang; J. Busenitz; Z. Djurcic; K. McKinny; D-M. Mei; A. Piepke; E. Yakushev; B. Berger; R.N. Cahn; Y.D. Chan; X. Chen; S.J. Freedman; B.K. Fujikawa; K.T. Lesko; K.-B. Luk; H. Murayama; D.R. Nygren; C.E. Okada; A.W. Poon; H.M. Steiner; L. Hannelius; G.A. Horton-Smith; R.D. McKeown; J. Ritter; B. Tipton; P. Vogel; C.E. Lane; P. Gorham; J. Learned; J. Maricic; S. Matsuno; S. Pakvasa; S. Dazeley; S. Hatakeyama; R.C. Svoboda; B.D. Dieterle; C. Gregory; J. Detwiler; G. Gratta; H-L. Liew; D. Murphree; N. Tolich; Y. Uchida; M. Batygov; S. Berridge; W. Bugg; H. Cohn; Y. Efremenko; Y. Kamyshkov; Y. Nakamura; L. DeBraeckeleer; C. Gould; H. Karwowski; D. Markoff; J. Messimore; K. Nakamura; R. Rohm; W. Tornow; A. Young · 2002

’s from the Sun and Other Sources at KamLANDEguchi, K.; Enomoto, S.; Furuno, K.; Ikeda, H.; Ikeda, K.; Inoue, K.; Ishihara, K.; Iwamoto, T.; Kawashima, T.; Kishimoto, Y.; Koga, M.; Koseki, Y.; Maeda, T.; Mitsui, T.; Motoki, M.; Nakajima, K.; Ogawa, H.; Owada, K.; Piquemal, F.; Shimizu, I.; Shirai, J.; Suekane, F.; Suzuki, A.; Tada, K.; Tajima, O.; Takayama, T.; Tamae, K.; Watanabe, H.; Busenitz, J.; Djurcic, Z.; McKinny, K.; Mei, D-M.; Piepke, A.; Yakushev, E.; Berger, B. E.; Chan, Y. D.; Decowski, M. P.; Dwyer, D. A.; Freedman, S. J.; Fu, Y.; Fujikawa, B. K.; Goldman, J.; Heeger, K. M.; Lesko, K. T.; Luk, K.-B.; Murayama, H.; Nygren, D. R.; Okada, C. E.; Poon, A. W. P.; Steiner, H. M.; Winslow, L. A.; Horton-Smith, G. A.; Mauger, C.; McKeown, R. D.; Tipton, B.; Vogel, P.; Lane, C. E.; Miletic, T.; Gorham, P. W.; Guillian, G.; Learned, J. G.; Maricic, J.; Matsuno, S.; Pakvasa, S.; Dazeley, S.; Hatakeyama, S.; Svoboda, R.; Dieterle, B. D.; DiMauro, M.; Detwiler, J.; Gratta, G.; Ishii, K.; Tolich, N.; Uchida, Y.; Batygov, M.; Bugg, W.; Efremenko, Y.; Kamyshkov, Y.; Kozlov, A.; Nakamura, Y.; Gould, C. R.; Karwowski, H. J.; Markoff, D. M.; Messimore, J. A.; Nakamura, K.; Rohm, R. M.; Tornow, W.; Young, A. R.; Chen, M-J.; Wang, Y-F. · Physical Review Letters · 2004

First Results from KamLAND: Evidence for Reactor Antineutrino DisappearanceEguchi, K.; Enomoto, S.; Furuno, K.; Goldman, J.; Hanada, H.; Ikeda, H.; Ikeda, K.; Inoue, K.; Ishihara, K.; Itoh, W.; Iwamoto, T.; Kawaguchi, T.; Kawashima, T.; Kinoshita, H.; Kishimoto, Y.; Koga, M.; Koseki, Y.; Maeda, T.; Mitsui, T.; Motoki, M.; Nakajima, K.; Nakajima, M.; Nakajima, T.; Ogawa, H.; Owada, K.; Sakabe, T.; Shimizu, I.; Shirai, J.; Suekane, F.; Suzuki, A.; Tada, K.; Tajima, O.; Takayama, T.; Tamae, K.; Watanabe, H.; Busenitz, J.; Djurcic, Z.; McKinny, K.; Mei, D.-M.; Piepke, A.; Yakushev, E.; Berger, B. E.; Chan, Y. D.; Decowski, M. P.; Dwyer, D. A.; Freedman, S. J.; Fu, Y.; Fujikawa, B. K.; Heeger, K. M.; Lesko, K. T.; Luk, K.-B.; Murayama, H.; Nygren, D. R.; Okada, C. E.; Poon, A. W. P.; Steiner, H. M.; Winslow, L. A.; Horton-Smith, G. A.; McKeown, R. D.; Ritter, J.; Tipton, B.; Vogel, P.; Lane, C. E.; Miletic, T.; Gorham, P. W.; Guillian, G.; Learned, J. G.; Maricic, J.; Matsuno, S.; Pakvasa, S.; Dazeley, S.; Hatakeyama, S.; Murakami, M.; Svoboda, R. C.; Dieterle, B. D.; DiMauro, M.; Detwiler, J.; Gratta, G.; Ishii, K.; Tolich, N.; Uchida, Y.; Batygov, M.; Bugg, W.; Cohn, H.; Efremenko, Y.; Kamyshkov, Y.; Kozlov, A.; Nakamura, Y.; Braeckeleer, L. De; Gould, C. R.; Karwowski, H. J.; Markoff, D. M.; Messimore, J. A.; Nakamura, K.; Rohm, R. M.; Tornow, W.; Young, A. R.; Wang, Y.-F. · Physical Review Letters · 2003

Graphene Frequency MultipliersHan Wang, ; Nezich, D.; Jing Kong, ; Palacios, T. · IEEE Electron Device Letters · 2009

Impact ionization in GaAs MESFETsHui, K.; Hu, C.; George, P.; Ko, P.K. · IEEE Electron Device Letters · 1990

Stability Analysis in CNTFETsHaji-Nasiri, Saeed; Moravvej-Farshi, Mohammad Kazem · IEEE Electron Device Letters · 2013

A Memristor Device ModelYakopcic, Chris; Taha, Tarek M.; Subramanyam, Guru; Pino, Robinson E.; Rogers, Stanley · IEEE Electron Device Letters · 2011

Junctionless Tunnel Field Effect TransistorGhosh, Bahniman; Akram, Mohammad Waseem · IEEE Electron Device Letters · 2013

Strained SOI FINFET SRAM DesignKerber, Pranita; Kanj, Rouwaida; Joshi, Rajiv V. · IEEE Electron Device Letters · 2013

Electromigration characteristics of copper interconnectsTao, J.; Cheung, N.W.; Hu, C. · IEEE Electron Device Letters · 1993

MOSFET drain breakdown voltageWu-Shiung Feng, ; Chan, T.Y.; Chenming Hu · IEEE Electron Device Letters · 1986