5234. Trace detection in surface microanalysis: C Landron, Vacuum, 31 (7), 1981, 291–295

• 卷第32卷
• 期第7期
• 印刷ISSN0042-207X
• 文件大小142.58KB
• 发表时间1982
• DOI10.1016/0042-207x(82)94267-1