Process characterization of Niobium based Josephson integrated circuits

• 作者Villegier, J.; Goniche, M.; Levis, M.; Renard, P.; Vabre, M.; Veler, J.
• 卷第19卷
• 期第3期
• 印刷ISSN0018-9464
• 电子ISSN1941-0069
• 文件大小1051.45KB
• 发表时间1983
• DOI10.1109/tmag.1983.1062441
• 页码942-945