Radiation Testing of the CMOS 8085 Microprocessor Family

Sexton, F. W.; Anderson, R. E.; Corbett, W. T.; Giddings, A. E.; Jorgensen, J. L.; Kim, W. S.; Mnich, T. M.; Nordstrom, T. V.; Ochoa, A.; Sobolewski, M. A.; Treece, R. K.; Wrobel, T. F.

作者Sexton, F. W.; Anderson, R. E.; Corbett, W. T.; Giddings, A. E.; Jorgensen, J. L.; Kim, W. S.; Mnich, T. M.; Nordstrom, T. V.; Ochoa, A.; Sobolewski, M. A.; Treece, R. K.; Wrobel, T. F.
卷第30卷
期第6期
印刷ISSN0018-9499
电子ISSN1558-1578
文件大小952.71KB
发表时间1983
DOI10.1109/tns.1983.4333114
页码4235-4239

发现好书期刊，享受阅读乐趣

Radiation Testing of the CMOS 8085 Microprocessor Family