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A scanning electron microscopy/transmission electron microscopy study of the photocrystallization of amorphous silicon

A scanning electron microscopy/transmission electron microscopy study of the photocrystallization of amorphous silicon

Prasad, A.; Ebihara, K.; John, P. K.; Tong, B. Y.; Wong, S. K.; Chik, K. P.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Prasad, A.; Ebihara, K.; John, P. K.; Tong, B. Y.; Wong, S. K.; Chik, K. P.
卷第54卷
期第10期
印刷ISSN0021-8979
文件大小628.61KB
发表时间1983
DOI10.1063/1.331800

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