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Chromium oxide film thickness measurements using spontaneous Raman scattering

Chromium oxide film thickness measurements using spontaneous Raman scattering

W. A. England; S. N. Jenny; D. A. Greenhalgh

作者W. A. England; S. N. Jenny; D. A. Greenhalgh
卷第15卷
期第3期
印刷ISSN0377-0486
电子ISSN1097-4555
文件大小318.61KB
发表时间1984
DOI10.1002/jrs.1250150305
页码156-159

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