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Equipment for long-term creep testing at cryogenic temperatures

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C.T. Yen; L.D. Roth; J.M. Wells; J.K. Tien

作者C.T. Yen; L.D. Roth; J.M. Wells; J.K. Tien
卷第24卷
期第8期
印刷ISSN0011-2275
文件大小545.28KB
发表时间1984
DOI10.1016/0011-2275(84)90014-6
页码410-414

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