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Creep of copper at cryogenic temperatures

Creep of copper at cryogenic temperatures

C. Yen; T. Caulfield; L.D. Roth; J.M. Wells; J.K. Tien
  • 作者C. Yen; T. Caulfield; L.D. Roth; J.M. Wells; J.K. Tien
  • 卷第24卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN0011-2275
  • 文件大小1420.78KB
  • 发表时间1984
  • DOI10.1016/0011-2275(84)90093-6
  • 页码371-377
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