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Critical angles of etching of CR-39 track detectors

Critical angles of etching of CR-39 track detectors

Hameed A. Khan; Reinhard Brandt; Naeem A. Khan; Khalid Jamil

作者Hameed A. Khan; Reinhard Brandt; Naeem A. Khan; Khalid Jamil
卷第35卷
期第2期
印刷ISSN0020-708X
文件大小259.13KB
发表时间1984
DOI10.1016/0020-708x(84)90193-5
页码111-116

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