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Electronic traps and Pb centers at the Si/SiO2 interface: Band-gap energy distribution

Poindexter, E. H.; Gerardi, G. J.; Rueckel, M.-E.; Caplan, P. J.; Johnson, N. M.; Biegelsen, D. K.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Poindexter, E. H.; Gerardi, G. J.; Rueckel, M.-E.; Caplan, P. J.; Johnson, N. M.; Biegelsen, D. K.
卷第56卷
期第10期
印刷ISSN0021-8979
文件大小709.99KB
发表时间1984
DOI10.1063/1.333819