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Far-infrared embedding impedance measurements

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D. P. Neikirk; D. B. Rutledge
  • 作者D. P. Neikirk; D. B. Rutledge
  • 卷第5卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN0195-9271
  • 电子ISSN1572-9559
  • 文件大小735.52KB
  • 发表时间1984-07
  • DOI10.1007/bf01009590
  • 页码1017-1026
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