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A CMOS LSSD test generation system : D. Leet, P. Shearon and R. France. IBM J. Res. Dev. 28, 625 (1984)

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卷第25卷
期第6期
印刷ISSN0026-2714
文件大小233.40KB
发表时间1985
DOI10.1016/0026-2714(85)90493-7
页码1159-1160

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