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Quantitative composition-depth profiles of thin films

Quantitative composition-depth profiles of thin films

R. P. Frankenthal; D. J. Siconolfi

作者R. P. Frankenthal; D. J. Siconolfi
卷第7卷
期第5期
印刷ISSN0142-2421
电子ISSN1096-9918
文件大小419.90KB
发表时间1985
DOI10.1002/sia.740070505
页码223-227

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