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Gate oxide integrity of NMOS transistor arrays

Gate oxide integrity of NMOS transistor arrays

Swartz, G.A.

作者Swartz, G.A.
卷第33卷
期第11期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小429.14KB
发表时间1986
DOI10.1109/t-ed.1986.22749
页码1826-1829

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