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The effect of scan velocity on the measurement of semiconductor parameters by optical-beam excitation

The effect of scan velocity on the measurement of semiconductor parameters by optical-beam excitation

Wilson, T.; Pester, P. D.
  • 期刊名称Journal of Applied Physics
  • 作者Wilson, T.; Pester, P. D.
  • 卷第61卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN0021-8979
  • 文件大小832.57KB
  • 发表时间1987
  • DOI10.1063/1.337941
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