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$Refractive index, relaxation times and the viscoelastic model in dry-grown SiO2 films on Si$

Refractive index, relaxation times and the viscoelastic model in dry-grown SiO2 films on Si

Landsberger, L. M.; Tiller, W. A.

期刊名称Applied Physics Letters
作者Landsberger, L. M.; Tiller, W. A.
卷第51卷
期第18期
印刷ISSN0003-6951
文件大小654.45KB
发表时间1987
DOI10.1063/1.98642

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