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Electrical Characterization of Silicon With Buried Defects

Electrical Characterization of Silicon With Buried Defects

Honeycutt, J.; Radzimski, Z.; Kola, R. R.; Salih, A. S. M.; Rozgonyi, G. A.

期刊名称MRS Proceedings
作者Honeycutt, J.; Radzimski, Z.; Kola, R. R.; Salih, A. S. M.; Rozgonyi, G. A.
卷第104卷
电子ISSN1946-4274
文件大小1038.35KB
发表时间1987-1
DOI10.1557/proc-104-121

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