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Structural Analysis and Electronic Properties of in on Si(100) from Synchrotron Photoemission Studies

Structural Analysis and Electronic Properties of in on Si(100) from Synchrotron Photoemission Studies

Rich, D. H.; Samsavar, A.; Miller, T.; Lin, H. F.; Chiang, T. -C.

期刊名称MRS Proceedings
作者Rich, D. H.; Samsavar, A.; Miller, T.; Lin, H. F.; Chiang, T. -C.
卷第94卷
电子ISSN1946-4274
文件大小365.31KB
发表时间1987-1
DOI10.1557/proc-94-219

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