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De-embedding coplanar probes with planar distributed standards

De-embedding coplanar probes with planar distributed standards

Williams, D.F.; Miers, T.H.

作者Williams, D.F.; Miers, T.H.
卷第36卷
期第12期
印刷ISSN0018-9480
电子ISSN1557-9670
文件大小617.25KB
发表时间1988
DOI10.1109/22.17426
页码1876-1880

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