The case for patch test readings beyond day 2
Rietschel, Robert L.; Adams, Robert M.; Maibach, Howard I.; Storrs, Frances J.; Rosenthal, Lawrence E.
- 作者Rietschel, Robert L.; Adams, Robert M.; Maibach, Howard I.; Storrs, Frances J.; Rosenthal, Lawrence E.
- 卷第18卷
- 期第1期
- 文件大小339.81KB
- 发表时间1988
- DOI10.1016/S0190-9622(88)70006-7
- 页码42-45