Nanostructure technology
Chang, T. H. P.; Kern, D. P.; Kratschmer, E.; Lee, K. Y.; Luhn, H. E.; McCord, M. A.; Rishton, S. A.; Vladimirsky, Y.
- 期刊名称IBM Journal of Research and Development
- 作者Chang, T. H. P.; Kern, D. P.; Kratschmer, E.; Lee, K. Y.; Luhn, H. E.; McCord, M. A.; Rishton, S. A.; Vladimirsky, Y.
- 卷第32卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0018-8646
- 电子ISSN0018-8646
- 文件大小2912.52KB
- 发表时间1988-07
- DOI10.1147/rd.324.0462
- 页码462-493