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Electrical Safety During Electrophysiological Testing

Electrical Safety During Electrophysiological Testing

STANLEY A. RUBIN; PETER C. NALOS; SIMON SOLINGEN; JAMES WHITING; ELI GANG
  • 作者STANLEY A. RUBIN; PETER C. NALOS; SIMON SOLINGEN; JAMES WHITING; ELI GANG
  • 卷第11卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN0147-8389
  • 电子ISSN1540-8159
  • 文件大小792.73KB
  • 发表时间1988
  • DOI10.1111/j.1540-8159.1988.tb04560.x
  • 页码645-649
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