Interpretation of transient currents in amorphous-silicon hydride p-i-n and n-i-n devices
Shapiro, F.R.; Bar-Yam, Y.; Silver, M.
- 作者Shapiro, F.R.; Bar-Yam, Y.; Silver, M.
- 卷第36卷
- 期第12期
- 印刷ISSN0018-9383
- 电子ISSN1557-9646
- 文件大小358.58KB
- 发表时间1989
- DOI10.1109/16.40938
- 页码2785-2788