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Ellipsometric analysis of thin NiCr films

Ellipsometric analysis of thin NiCr films

I. Ohlídal; E. Schmidt; M. Líbezný; V. Tvarožek; I. Novotný
  • 作者I. Ohlídal; E. Schmidt; M. Líbezný; V. Tvarožek; I. Novotný
  • 卷第169卷
  • 期第2期
  • 印刷ISSN0040-6090
  • 文件大小468.20KB
  • 发表时间1989
  • DOI10.1016/0040-6090(89)90703-7
  • 页码213-222
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