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Scanning capacitance microscopy on a 25 nm scale

Scanning capacitance microscopy on a 25 nm scale

C. C. Williams; W. P. Hough; S. A. Rishton
  • 作者C. C. Williams; W. P. Hough; S. A. Rishton
  • 卷第55卷
  • 期第2期
  • 文件大小586.71KB
  • 发表时间1989
  • DOI10.1063/1.102096
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