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The Impact of Clustered Defect Distributions in IC Fabrication

The Impact of Clustered Defect Distributions in IC Fabrication

Susan L. Albin and David J. Friedman
  • 期刊名称Management Science
  • 作者Susan L. Albin and David J. Friedman
  • 卷第35卷
  • 期第9期
  • 印刷ISSN0025-1909
  • 电子ISSN1526-5501
  • 文件大小1569.50KB
  • 发表时间1989-09
  • DOI10.2307/2632021
  • 页码1066-1078
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