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Residual stress in resin-molded IC chips.

Residual stress in resin-molded IC chips.

MIURA, Hideo; NISHIMURA, Asao; KAWAI, Sueo; NISHI, Kunihiko
  • 期刊名称Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers Series A
  • 作者MIURA, Hideo; NISHIMURA, Asao; KAWAI, Sueo; NISHI, Kunihiko
  • 卷第55卷
  • 期第516期
  • 印刷ISSN0387-5008
  • 电子ISSN1884-8338
  • 文件大小917.68KB
  • 发表时间1989
  • DOI10.1299/kikaia.55.1763
  • 页码1763-1770
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