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Defects and strains at magnetic and semiconductor interfaces

W. W. Gerberich; L. G. Swanson; R. R. Keller; W. Zielinski; J. E. Angelo; T. J. Foecke; R. M. KING

作者W. W. Gerberich; L. G. Swanson; R. R. Keller; W. Zielinski; J. E. Angelo; T. J. Foecke; R. M. KING
卷第19卷
期第9期
印刷ISSN0361-5235
电子ISSN1543-186X
文件大小2542.88KB
发表时间1990-09
DOI10.1007/bf02652910
页码865-872