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Experimental transient analysis of the tunnel current in EEPROM cells

Experimental transient analysis of the tunnel current in EEPROM cells

Bez, R.; Cantarelli, D.; Cappelletti, P.

作者Bez, R.; Cantarelli, D.; Cappelletti, P.
卷第37卷
期第4期
印刷ISSN0018-9383
电子ISSN1557-9646
文件大小628.54KB
发表时间1990
DOI10.1109/16.52445
页码1081-1086

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