A 55-ns 16-Mb DRAM with built-in self-test function using microprogram ROM

• 作者Takeshima, T.; Takada, M.; Koike, H.; Watanabe, H.; Koshimaru, S.; Mitake, K.; Kikuchi, W.; Tanigawa, T.; Murotani, T.; Noda, K.; Tasaka, K.; Yamanaka, K.; Koyama, K.
• 卷第25卷
• 期第4期
• 文件大小758.87KB
• 发表时间1990
• DOI10.1109/4.58282
• 页码903-911