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Designing in power-down test circuits

Designing in power-down test circuits

Levy, P.S.
  • 期刊名称IEEE Design & Test of Computers
  • 作者Levy, P.S.
  • 卷第8卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0740-7475
  • 文件大小348.61KB
  • 发表时间1991-09
  • DOI10.1109/54.84241
  • 页码31-35
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