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Design for testability of digital combinational circuits: A lisp approach

Design for testability of digital combinational circuits: A lisp approach

Fadi N. Sibai
  • 作者Fadi N. Sibai
  • 卷第4卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0952-1976
  • 文件大小465.71KB
  • 发表时间1991
  • DOI10.1016/0952-1976(91)90018-2
  • 页码229-234
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