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Calibration and characterization of piezoelectric elements as used in scanning tunneling microscopy

Calibration and characterization of piezoelectric elements as used in scanning tunneling microscopy

van de Leemput, L. E. C.; Rongen, P. H. H.; Timmerman, B. H.; van Kempen, H.
  • 期刊名称Review of Scientific Instruments
  • 作者van de Leemput, L. E. C.; Rongen, P. H. H.; Timmerman, B. H.; van Kempen, H.
  • 卷第62卷
  • 期第4期
  • 印刷ISSN0034-6748
  • 文件大小652.89KB
  • 发表时间1991
  • DOI10.1063/1.1141989
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