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Thickness determination of thin SiO2 on silicon

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H. Reisinger; H. Oppolzer; W. Hönlein
  • 作者H. Reisinger; H. Oppolzer; W. Hönlein
  • 卷第35卷
  • 期第6期
  • 印刷ISSN0038-1101
  • 文件大小844.09KB
  • 发表时间1992
  • DOI10.1016/0038-1101(92)90281-g
  • 页码797-803
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