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Quantification and Characterization of the Thermal Degradation of TiSi2 Using Thermal Wave Analysis

Fernandes, M. G.; Sitaram, A. R.; Kottke, M. L.; Kaushik, V. S.; Pintchovski, F. S.

期刊名称MRS Proceedings
作者Fernandes, M. G.; Sitaram, A. R.; Kottke, M. L.; Kaushik, V. S.; Pintchovski, F. S.
卷第260卷
电子ISSN1946-4274
文件大小2242.77KB
发表时间1992-1
DOI10.1557/proc-260-213