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Calibration of atomic‐force microscope tips

Calibration of atomic‐force microscope tips

Hutter, Jeffrey L.; Bechhoefer, John

作者Hutter, Jeffrey L.; Bechhoefer, John
卷第64卷
期第7期
印刷ISSN0034-6748
文件大小1167.57KB
发表时间1993
DOI10.1063/1.1143970

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